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通過將測針的**與待測物體接觸來測量部件的表面狀況。
系統檢測并記錄測針在跟蹤測量物體表面時的垂直變化(位移)。
使用接觸式粗糙度計時,高精度測量精細特征的關鍵在于盡可能減小測尖的半徑,并保持較低的接觸壓力。
測尖的直徑通常應小于 10 微米,其理想形狀是帶有球形測尖的圓錐體。
測針與被測物的直接接觸可提供清晰的波形,并能進行遠距離測量。
另一方面,還應該注意以下幾點:
觸針磨損 | 由于它與被測物體直接接觸,因此會因摩擦而產生磨損。觸針的形狀直接影響測量結果,因此根據其狀況可能需要對其進行拋光(或更換)。 |
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物體上的壓痕 | 由于硬質材料制成的測針在持續壓力下與物體接觸,可能會損壞被觀測物體。 高速移動時也要小心。 |
*小測量值 | 粗糙度測量儀可測量的形狀取決于測針的針尖直徑。 無法測量小于測尖直徑的溝槽。 |
非接觸式粗糙度計使用光而不是觸筆。
基于不同原理的測量方法有多種,如共焦法、白光干涉法等。
在非接觸式方法中,除了表面粗糙度測量之外,還有許多進行形狀測量的方法。
將測量結果轉換為三維數據,進行高度、平面度、平面輪廓等各種測量。
非接觸式解決了接觸式的觸針磨損、目標物體壓痕、*小測量值限制等問題。另一個優點是測量時間短,可以獲得高精度的測量結果。
另一方面,它不擅長測量光線無法到達或無法正常獲得反射的物體,因此在測量形狀復雜的物體時,有必要改變物體的擺放方式或對其進行切割,使其露出頂面。
考慮到這些,選擇適合測量目標的設備非常重要。